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    日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監測儀

    訪問次數:568

    更新日期:2023-07-13

    簡要描述:

    日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監測儀OMD-1000
    這是一臺光譜膜厚監測儀,用于監測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設備中,并作為膜厚監測設備完成,該設備具有氣相沉積零件制造商的專有技術。

    日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監測儀
    品牌其他品牌產品種類臺式
    數顯功能溫控功能
    產地進口

    日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監測儀OMD-1000


    這是一臺光譜膜厚監測儀,用于監測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設備中,并作為膜厚監測設備完成,該設備具有氣相沉積零件制造商的專有技術。

    全波長范圍

    在傳統型號中,波長選擇是濾光片類型,但是新產品結合了我們成熟的光譜儀,現在可以選擇任何波長。
    膜厚變化的信號是從電壓輸出到與個人計算機兼容的數字輸出,控制機制是從手動操作到個人計算機的命令控制。此外,通過將薄膜厚度計主體通過I / F直接連接到個人計算機來控制其厚度成為可能,這是一個非常緊湊的系統,無需像其他制造商一樣具有控制器。

    特征

    • 分光鏡設計緊湊

    • 通過提高抗噪聲性(靜電放電測試耐受電壓±5 kV)實現高度可靠的膜厚度監控

    • 可以通過PC上的命令自動控制

    • 通過將控制器合并到接收器主體中來實現高性價比

    日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監測儀OMD-1000

    產品規格

    模型OMD-1000
    光譜儀類型Zellny Turner類型單單色
    波長范圍保證范圍:380至900 nm可操作
    范圍:350至1100 nm
    波長分辨率狹縫0.5mm:4.2nm [546nm]
    狹縫1.0mm:8.3nm [546nm]
    波長精度±1.0納米
    z小波長進給0.1納米
    外部控制RS232C
    外部輸出端子DC0-2V(滿量程)
    采樣間隔100ms以上
    靜電放電試驗耐電壓±5kV(實際8kV)
    光源12V100W鹵素燈
    光強度穩定性±0.1%/ h以下
    輸入電壓AC100V 50/60赫茲
    允許輸入電壓AC85-132V
    視在功率340VA以下
    使用環境溫度10-35℃
    濕度20-80%



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