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    optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

    訪問次數:541

    更新日期:2023-04-03

    簡要描述:

    optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
    實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的測量方法(“共聚焦色度模式")外,還安裝了新的“干涉測量模式"。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用,從而擴大了應用范圍。

    optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
    品牌其他品牌產品種類臺式
    數顯功能溫控功能
    產地進口

    optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

    image.png

    實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的
    測量方法(“共聚焦色度模式")外,還安裝了新的“干涉測量模式"。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用,從而擴大了應用范圍。

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    控制器可用于共聚焦色度模式和干涉測量模式。 與以前的型號一樣,系統配置易于使用且簡單,只需根據所需的測量精度更換筆式模塊即可。

    測量原理(干涉測量模式)

    干渉測定モード測定原理

    光源發出的光會反射在測量對象、參考板和參考平面上。 此時,兩個反射光之間存在光程差。 如圖所示,如果將參考板插入待測物體的前面并盡可能靠近,使光程差進入干涉距離,則兩個反射光之間會發生干涉。 由于這種干涉的光譜強度是由波長調制的,因此可以通過軸向顏色校正光學筆進行測量和分析,以實現更精確的厚度測量。

    optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

    控制器CCS 控制器光學筆“DUO"控制器
    測量頻率100~2,000點/秒~2,000 點/秒
    測量頻率選擇
    光源白色LED鹵素
    光源強度可 編程 序可 編程 序
    自動照度調節功能-
    遙控--
    大小168×138×120 毫米376×363×114 毫米
    重量1.4 千克6 公斤





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