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    shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 光學測量儀

    訪問次數:378

    更新日期:2023-11-13

    簡要描述:

    shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100
    以未有的低成本實現微小區域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量

    shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 光學測量儀
    品牌其他品牌產品種類臺式
    數顯功能溫控功能
    產地進口

    shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 

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    • 通過使用特殊的半反射鏡,可以減少背面反射光,無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
      (可測量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時)

    • 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(φ50μm))

    • 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量,并且具有高重復性。(光學設計捕獲最大量的光,并
      通過512元件線性PDA、內置16位A/D轉換器和USB 2.0接口的高速計算實現快速測量。)

    • 可以進行色度測量和L*a*b*測量??梢允褂霉庾V比色法根據光譜反射率來測量物體。

    • 數據可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

    • 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

    • 具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。

    shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 

    規格

    型號MSP-100
    測量波長380~1050nm
    測量重復性±0.2%(380-450nm)
    ±0.02%(451-950nm)
    ±0.2%(951-1050nm)
    樣品面 NANA 0.12(使用 10 倍物鏡時)
    樣品測量范圍φ50μm(使用10倍物鏡時)
    樣品曲率半徑-1R~-無窮大, +1R~無窮大
    顯示分辨率1納米
    測量時間幾秒到十幾秒(取決于采樣時間)
    外形尺寸(寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機身)
    工作溫度限制18~28℃
    工作濕度60%以下(無凝露)




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